偏反光顯微鏡-高精度偏反光顯微鏡-上海天省儀器廠

2010

06-29

11:26:39

 717

來源：上海天省儀器有限公司

偏反光顯微鏡高精度偏反光顯微鏡上海天省

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用途：
　　　偏反光顯微鏡XPV-400E型是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校zui常用的專業實驗儀器。高精度偏反光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影。偏反光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業以及藥品檢驗等領域。高精度偏反光顯微鏡操作方便、直觀、檢定效率高。適用于地質,礦業勘查等,高精度偏反光顯微鏡是地質勘查資質進行分類分級中*儀器.比如:區域地質勘查、海洋地質勘查、水文地質勘查、工程地質勘查、環境地質勘查、固體礦產勘查、地球化學勘查等,是地質類研究*的實驗室儀器.

偏反光顯微鏡 XPV-400E 偏反光顯微鏡 XPV-400Z 偏反光顯微鏡 XPV-400E

系統簡介　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　透偏反光顯微鏡系統是將精密的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、的計算機圖像處理技術地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

上海天省儀器：反光顯微鏡　偏反顯微鏡　礦相顯微鏡　高精度顯微鏡　

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